本試驗不適用千在高溫或低溫條件下進行。除另有規(guī)定或有理由相信高溫或低溫可增強彈道沖擊環(huán) 境外，一般在室溫條件下進行彈道沖擊試驗。

   對所有電子、機械和機電裝備產(chǎn)生不利的影響。不利影響的程度一般隨著彈道 沖擊的址級和持續(xù)時間增加而增大，并且隨著到彈道沖擊源（撞擊點或點陣）的距離增加而減小。當彈道沖擊的待續(xù)時間使其產(chǎn)生的材料應力波的波長與裝備中微電子器件固有頻率的波長一致時，會增強不利 影響。當彈道沖擊的持續(xù)時間使其產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)響應運動與機械或機電裝備的低頻共振一致時，會增強不 利影響。